倍加福P+F檢測(cè)光柵**要求

介紹：
光柵是用于數(shù)控機(jī)床的精密檢測(cè)裝置，是一種非接觸式
線位移的檢測(cè)。光柵是利用光的透射、衍射現(xiàn)象制成的
測(cè)量。它是利用光學(xué)原理進(jìn)行工作，按形狀可分為圓光
柵和長(zhǎng)光柵。圓光柵用于角位移的檢測(cè)，長(zhǎng)光柵用于直
光電檢測(cè)元件，它主要由光柵尺（包括標(biāo)尺光柵和指示
光柵）和光柵讀數(shù)頭兩部分組成。

原理分析：
常見光柵的工作原理都是根據(jù)物理上莫爾條紋的形成原
理進(jìn)行工作的。壓力傳感器當(dāng)使指示光柵上的線紋與標(biāo)
黑色線紋的重疊部分變得越來(lái)越少，不透明區(qū)域面積逐
漸變大，即遮光面積逐漸變大，使得擋光效應(yīng)變強(qiáng)，只
尺光柵上的線紋成一角度來(lái)放置兩光柵尺時(shí)，必然會(huì)造
小，擋光效應(yīng)弱，光的累積作用使得這個(gè)區(qū)域出現(xiàn)亮
帶。相反，距交叉點(diǎn)較遠(yuǎn)的區(qū)域，因兩光柵尺不透明的
成兩光柵尺上的線紋互相交叉。在光源的照射下，交叉
點(diǎn)近旁的小區(qū)域內(nèi)由于黑色線紋重疊，因而遮光面積
有較少的光線能通過(guò)這個(gè)區(qū)域透過(guò)光柵，使這個(gè)區(qū)域出
現(xiàn)暗帶，從而便形成了我們所見到的摩爾條紋。

倍加福P+F檢測(cè)光柵**要求